عنوان پایان‌نامه
آنالیز بیزی برای آزمونهای طول عمر شتابیده بااستفاده از یک الگوی آمیخته وایبل فرآیند دیریخله
- رشته تحصیلی
- آمار ریاضی
- مقطع تحصیلی
- کارشناسی ارشد
- محل دفاع
- کتابخانه پردیس علوم شماره ثبت: 6297;کتابخانه مرکزی -تالار اطلاع رسانی شماره ثبت: 75701;کتابخانه پردیس علوم شماره ثبت: 6297;کتابخانه مرکزی -تالار اطلاع رسانی شماره ثبت: 75701
- تاریخ دفاع
- ۲۱ شهریور ۱۳۹۵
- دانشجو
- ابراهیم بنیادی
- استاد راهنما
- فیروزه حقیقی
- چکیده
- در این پایان‌نامه، یک روش بیز نیمه پارامتری برای آزمون طول عمر تسریع یافته (ALT) ، مورد مطالعه قرار گرفته است. در مدل آزمون طول عمر تسریع یافته مورد نظر، یک ارتباط لگاریتم خطی (log-linear)بین طول عمر و سطح استرس، بدون اعمال محدودیت بر روی پارامترهای توزیع زمان شکست، در نظر گرفته‌ایم. یک مدل آمیخته فرآیند دیریکله با هسته توزیع وایبل نیز برای نشان دادن عملکرد مدل، بر روی داده‌های طول عمر، به کار برده شده است. الگوریتم شبیه‌سازی مورد استفاده نیز طبق شبیه‌سازی به روش نمونه برداری گیبز می‌باشد که برای آنالیز داده‌های سانسور شده از راستِ تسریع یافته، و پیش‌بینی توزیع زمان شکست تحت استرس نرمال، به کار برده شده است. مدل و الگوریتم مورد استفاده نیز با استفاده از دو مثال به همراه داده‌های واقعی به طور کاربردی پیاده‌سازی شده‌اند. داده‌های مورد استفاده مربوط به قابلیت اطمینانِ ابزارِ نانوالکترونیکی می‌باشد. نتایج گویای این واقعیت بودند که مدل مورد استفاده (یعنی روش بیز نیمه پارامتری برای داده‌های طول عمر تسریع یافته به کمک مدل لگاریتم خطی) نسبت به روش پارامتری، انعطاف پذیری بالاتری دارد.
- Abstract
- This study proposes a semiparametric Bayesian approach to accelerated life test (ALT). The proposed accelerated life test model assumes a log-linear lifetime-stress relationship, without making any assumption on the parametric form of the failure-time distribution. A Dirichlet process mixture model with a Weibull kernel is employed to model the failure-time distribution at a given stress level. A simulation-based model-fitting algorithm that implements Gibbs sampling is developed to analyze right-censored ALT data, and to predict the failure-time distribution at the normal stress level. The proposed model and algorithm are applied to two practical examples related to the reliability of nanoelectronic devices. The results have demonstrated that the proposed methodology is capable of providing accurate prediction of the failure-time distribution at the normal stress level without assuming any restrictive parametric failure-time distribution. Keywords: Accelerated life test, Bayesian approach, Dirichlet process mixture model and Gibbs samping method.
