مدل های استرس پله ای
- رشته تحصیلی
- آمار
- مقطع تحصیلی
- کارشناسی ارشد
- محل دفاع
- کتابخانه پردیس علوم شماره ثبت: ۴۶۴۸;کتابخانه مرکزی -تالار اطلاع رسانی شماره ثبت: 51614
- تاریخ دفاع
- ۱۷ خرداد ۱۳۹۰
- دانشجو
- مظاهر سهرابی نور
- استاد راهنما
- فیروزه حقیقی
- چکیده
- امروزه، با پیشرفت تکنولوژی و تولید محصولات با قابلیت اعتماد بالا، طول عمر محصولات به طور قابل ملاحظهای افزایش یافته است. بنابراین محاسبهی توزیع زمان شکست برای تبیین ویژگیهای محصول با قابلیت اعتماد بالا نیاز به صرف زمان طولانی دارد. بویژه وقتی که هزینه و حساسیت محصول بالا باشد نمیتوان یک محصول را در شرایط عادی آزمون کرد تا زمان شکست آن محصول مشاهده شود. یکی از راههای غلبه بر این مشکل استفاده از آزمون طول عمر شتابیده است، به این صورت که محصول را در معرض استرس بالاتری نسبت به استرس نرمال قرار میدهند، به طور مثال در شرایط ولتاژ بالاتر، گرمای بیشتر، رطوبت بالاتر، نرخ استفادهی بیشتر. یکی از مدلهایی که در آزمون طول عمر شتابیده بسیار مورد استفاده قرار میگیرد، مدل استرس پلهای است که استرسهای مورد نظر بین فواصل زمانی مشخص، ثابت هستند و با تغییر فاصلهی زمانی، استرس تغییر میکند. مدل نمایشی تجمعی نلسون، یکی از روشهای تحلیل مدل استرس پلهای است که تحت فرضهایی، اثر تغییر استرس بر طول عمر محصول را به خوبی نمایش میدهد. در این پایاننامه مدلهای استرس پلهای را برای دادههای با تابع توزیع مشخص و تحت سانسور فزاینده نوع دوم مورد بررسی قرار میدهیم. برای مثال تابع توزیع دادهها از خانوادهی توزیع نمایی تعمیم یافته انتخاب شده است. این خانواده ضمن حفظ شکل توزیع نمایی محدودیتهای مربوط به شکل تابع خطر را در توزیع نمایی ندارد و میتوان از آن به عنوان رقیبی برای توزیع وایبول، گاما استفاده کرد. کلید واژه: توزیع زمان شکست، آزمون طول عمر شتابیده، مدل استرس پلهای، مدل نمایش تجمعی نلسون، سانسور فزاینده نوع دوم، توزیع نمایی تعمیمیافته.
- Abstract
- Abstract Nowadays, Technology progressing and manufacture products which have high reliability and life products are significantly increased. Therefore, calculating failure time distribution for expressing high reliability products property needs high life and take long lasting to obtain their distributions. Especially, it has high cost and sensibility; product cannot be used in normal conditions till it reaches to failure time. One way to overcome this problem is to accelerate life testing, the product is tested under conditions of higher than normal stress, e.g. under higher voltage, higher heat, higher humidity, higher use rates and etc. One of the models which most used in accelerated life testing is step stress model that the desired stresses are fixed between specified time intervals and stress will be change when time intervals change. A method of step stress model analysis is to Nelson Cumulative Exposure Model under assumptions shows as well effect of stress changes on product life. In this thesis, we consider step stress models under progressive type-?? censoring for exact distribution. For example, Data distribution was chosen from Extension Exponential distribution. This family while keep Exponential distribution figure it has not restriction relate to hazard function in Exponential distribution and can be used as a competitor of Weibull distribution, Gamma etc. Keywords: Failure time distribution, Accelerated life testing, Step Stress Model, Nelson Cumulative Exposure Model, Progressive Type-?? censoring, Extension Exponential.